SGW X-5 显微熔点仪
产品简介 · 采用PID温度调节技术，控制测量温度的变化。 · 采用显微摄像头和彩色液晶触摸屏，将样品在显微镜下的融化过程直观地显示在屏幕上，用户能更清晰地观察和掌控测量过程。 · 测量的温度值（初熔、终熔）数据可存储，方便用户随时查看。 · 测试结果可以通过USB接口传输至PC机进行处理，也可以连接微型打 印机打印测试结果。 · 仪器具有毛细管法/热台法两种熔点测量方法，可测固体和粉末样品, 满足不同用户需求。
技术参数
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SGW® X-5 显微熔点仪 上海仪电物理光学仪器有限公司 市场价9576元
| 数量 | 优惠价格 |
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上海仪电物理光学仪器有限公司
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SGW® X-5 显微熔点仪
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联系人：杨淋
SGW X-5 显微熔点仪
产品简介
· 采用PID温度调节技术，控制测量温度的变化。
· 采用显微摄像头和彩色液晶触摸屏，将样品在显微镜下的融化过程直观地显示在屏幕上，用户能更清晰地观察和掌控测量过程。
· 测量的温度值（初熔、终熔）数据可存储，方便用户随时查看。
· 测试结果可以通过USB接口传输至PC机进行处理，也可以连接微型打 印机打印测试结果。
· 仪器具有毛细管法/热台法两种熔点测量方法，可测固体和粉末样品, 满足不同用户需求。
技术参数
仪器型号
SGW X-5
测量范围
室温~360℃
测量方法
20x变焦
最小示值
0.1℃
升温速率
0.2℃/min、0.5℃/min、1.0℃/min、1.5℃/min 、
2.0℃/min、3.0℃/min、4.0℃/min、5.0℃/min
示值误差
毛细管法
≤200℃：±0.4℃；>200℃：±0.7℃
热台法
室温～100℃：±0.4℃；
100℃～200℃：±0.6℃；
200℃～300℃：±0.8℃
示值重复性
升温速率为1.0℃/min时，标准偏差0.3℃
线性升温速率误差
±10%
毛细管尺寸
外径?1.4mm、内径?1.0mm、长度90mm
样品高度
3mm
载玻片/盖玻片尺寸
载玻片：76.2mm x 25.4mm x 0.8mm；
盖玻片：18.0mm x 18.0mm x 0.17mm
视场直径
?2.0mm
数据储存
1000组
显示方式
7寸TFT触摸屏
校准方式
多点校准
通信接口
USB（连接上位PC机），U盘
打印机型号
选配：针式打印机RD-TH24-SC
电源
220V±22V，50Hz±1Hz，150w
仪器尺寸
310mm×230mm×505mm
仪器净重
6.0Kg
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